赫爾納供應德國NanoFocus三維激光掃描儀

赫爾納供應德國NanoFocus三維激光掃描儀

赫爾納貿(mào)易優(yōu)勢供應,德國總部直接采購，近30年進口工業(yè)品經(jīng)驗,原裝產(chǎn)品,支持選型，為您提供一對一好的解決方案：貨期穩(wěn)定，快速報價，價格優(yōu)，在中國設(shè)有8大辦事處提供相關(guān)售后服務.

公司簡介：

自 1994 年以來，NanoFocus AG 一直致力于開發(fā)、生產(chǎn)和銷售用于工業(yè)和實驗室的光學 3D 表面測量技術(shù)。工業(yè)用 3D 共聚焦顯微鏡，用于分析技術(shù)表面，配備µsurf 測量系統(tǒng)。伴隨著不斷的進一步發(fā)展，這些和其他 NanoFocus 技術(shù)是工業(yè)表面測量技術(shù)。

NanoFocus三維激光掃描儀主要產(chǎn)品：

NanoFocus三維激光掃描儀

NanoFocus三維激光掃描儀產(chǎn)品型號：

µscan CLM-FC

µsoft Metrology

NanoFocus三維激光掃描儀產(chǎn)品特點：

µscan CLM-FC 系列的測量設(shè)備還可用于檢測密封材料和涂層中小的裂縫和缺陷，并檢查氣體擴散層 (GDL) 的孔隙率和缺陷。具有測量范圍的高細節(jié)度，共焦多通道傳感器的方法可實現(xiàn)動態(tài)掃描長度。

NanoFocus三維激光掃描儀產(chǎn)品應用：

NanoFocus三維激光掃描儀scan CLM-FC（燃料電池），燃料電池的生產(chǎn)相關(guān)和非破壞性表面分析，使用快速的全表面 3D 掃描，可以在臨近生產(chǎn)時以高精度檢查工具和雙極板（石墨或金屬）的表面質(zhì)量。

NanoFocus三維激光掃描儀與傳統(tǒng)測量方法（例如激光掃描顯微鏡）相比的優(yōu)勢：明顯更大的測量范圍。進給軸的行程動態(tài)決定掃描長度。結(jié)合行程范圍可達 0.5 m 的可靈活配置的軸系統(tǒng)，該方法還可以測量大型雙極板和重型工具。如果需要，全表面掃描輪廓儀可以與高分辨率 3D 顯微鏡結(jié)合使用。這種共焦光學測量系統(tǒng)可以根據(jù)標準對 3D 粗糙度進行詳細評估。

NanoFocus三維激光掃描儀直觀的測量和控制軟件 µsoft metrology FC 保證了測量的高效進行。借助 µsoft Metrology，可以從一個用戶界面方便地控制傳感器和全景相機。在傳感器或全景相機之間切換時，測量頭會自動移動到定義的測量位置。幾秒鐘后獲得具有強度疊加的測量結(jié)果的有意義的 3D 表示。

NanoFocus三維激光掃描儀表面分析軟件 µsoft analysis FC 提供的功能包，用于顯示和分析結(jié)構(gòu)、粗糙度、波紋度、臺階高度、輪廓和其他表面特征。

NanoFocus三維激光掃描儀在直觀的多語言用戶界面中，按一下按鈕創(chuàng)建復雜的分析報告。NanoFocus三維激光掃描儀剖面圖、3D 重建或反射圖像等多種顯示選項可創(chuàng)建有意義的測量報告。用戶可以輕松創(chuàng)建和實施個人評估方案。該軟件包含過濾功能，并根據(jù) ISO 25178、ISO 4287、ISO 13565 或 EN 15178 提供的標準參數(shù)。如果需要，NanoFocus 還可以創(chuàng)建單獨的插件以進一步處理測量數(shù)據(jù)。

NanoFocus三維激光掃描儀3D光學輪廓儀1個2個3個，MarSurf CP/CL 選擇，2D / 3D 輪廓測量，MarSurf CP 和 MarSurf CL select是光學輪廓儀，可用于測量和分析二維和三維表面——非接觸式、與材料無關(guān)且快速。

NanoFocus三維激光掃描儀它們的特點是同時具有高測量精度的大測量區(qū)域的極快檢測。 由于采用模塊化設(shè)計，測量系統(tǒng)可以適應各種測量任務以及對自動化、測量舒適度和準確性的個性化要求。根據(jù)測量任務的不同，可以靈活選擇不同的傳感器。軸系統(tǒng)和軟件模塊可以單獨組合。

NanoFocus三維激光掃描儀MarSurf CP 和 CL選擇您對自動化、測量舒適度和準確性的個性化要求 - 直至全自動測量解決方案。